A study of flicker noise in MOS transistor under switched bias condition

Matías Miguez, Alfredo Arnaud

Producción científica: Contribución a una revista › Artículo › revisión exhaustiva

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Huella

Profundice en los temas de investigación de 'A study of flicker noise in MOS transistor under switched bias condition'. En conjunto forman una huella única.

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