Consistent model for drain current mismatch in MOSFETs using the carrier number fluctuation theory
- H. Klimach
- , A. Arnaud
- , M. C. Schneider
- , C. Galup-Montoro
- Federal University of Santa Catarina
- Universidade Federal do Rio Grande do Sul
- Universidad de la República
Producción científica: Contribución a una revista › Artículo de la conferencia › revisión exhaustiva
9
Citas
(Scopus)