Consistent model for drain current mismatch in MOSFETs using the carrier number fluctuation theory

H. Klimach, A. Arnaud, M. C. Schneider, C. Galup-Montoro

Producción científica: Contribución a una revistaArtículo de la conferenciarevisión exhaustiva

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Huella

Profundice en los temas de investigación de 'Consistent model for drain current mismatch in MOSFETs using the carrier number fluctuation theory'. En conjunto forman una huella única.

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