MOSFET mismatch modeling: A new approach

Hamilton Klimach, Carlos Galup-Montoro, Márcio C. Schneider, Alfredo Arnaud

Producción científica: Contribución a una revistaArtículorevisión exhaustiva

16 Citas (Scopus)

Resumen

Handling component mismatch represents a great challenge in analog and even digital design for current and future submicron technologies. This article, a special selection from the Symposium on Integrated Circuits and Systems Design (SBCCI), presents a matching model to help designers account for real effects while maintaining simplicity and easing the design effort.

Idioma originalInglés
Páginas (desde-hasta)20-29
Número de páginas10
PublicaciónIEEE Design and Test of Computers
Volumen23
N.º1
DOI
EstadoPublicada - ene. 2006
Publicado de forma externa

Huella

Profundice en los temas de investigación de 'MOSFET mismatch modeling: A new approach'. En conjunto forman una huella única.

Citar esto